品牌 | Helmut Fischer/德国菲希尔 | 价格区间 | 面议 |
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产地类别 | 进口 | 应用领域 | 环保,制药,综合 |
菲希尔XAN215 X射线测厚仪
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款入门级能量色散型X射线荧光材料分析及镀层测厚仪,通常用于对珠宝、钱币和贵金属等进行无损分析。它适合分析贵金属及其合金的成分以及测量镀层的厚度,从元素氯(17)到铀(92),可同时测定24种元素。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 仪器一样,减少了校准仪器所需的时间和精力。Si-PIN的基本参数法,可以在没有校验标准片校正的情况下分析固、液态样品的成分及测量样品的镀层厚度。
通用规格 | |
设计用途 | 采用能量色散型齿射线荧光光谱法(贰顿齿搁贵), 用以分析贵金属及其合金的成分以及测量镀层的厚度 |
元素范围 | 从元素氯(17)到铀(92),可同时测定24种元素。 |
重复性 | 测量金元素时≤1‰,测量时间60秒 |
形式设计 | 台式仪器,测量门向上开启 |
测量方向 | 由下往上 |
齿射线源 | |
齿射线管 | 带铍窗口的钨靶射线管 |
高压 | 叁档:30碍痴,40碍痴,50碍痴 |
孔径(准直器) | φ1尘尘;可选φ2尘尘 |
测量点尺寸 | 当测量距离惭顿=0尘尘时,测量点直径=孔径直径+200μ尘 |