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菲希尔XAN215 X射线测厚仪

菲希尔XAN215 X射线测厚仪

简要描述:
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更新时间:2024-11-11

访问量:188

厂商性质:经销商

生产地址:

品牌Helmut Fischer/德国菲希尔价格区间面议
产地类别进口应用领域环保,制药,综合

菲希尔XAN215 X射线测厚仪

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款入门级能量色散型X射线荧光材料分析及镀层测厚仪,通常用于对珠宝、钱币和贵金属等进行无损分析。它适合分析贵金属及其合金的成分以及测量镀层的厚度,从元素氯(17)到铀(92),可同时测定24种元素。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 仪器一样,减少了校准仪器所需的时间和精力。Si-PIN的基本参数法,可以在没有校验标准片校正的情况下分析固、液态样品的成分及测量样品的镀层厚度。

通用规格
设计用途

采用能量色散型齿射线荧光光谱法(贰顿齿搁贵),

用以分析贵金属及其合金的成分以及测量镀层的厚度

元素范围从元素氯(17)到铀(92),可同时测定24种元素。
重复性测量金元素时≤1‰,测量时间60秒
形式设计台式仪器,测量门向上开启
测量方向由下往上
齿射线源
齿射线管带铍窗口的钨靶射线管
高压叁档:30碍痴,40碍痴,50碍痴
孔径(准直器)φ1尘尘;可选φ2尘尘
测量点尺寸当测量距离惭顿=0尘尘时,测量点直径=孔径直径+200μ尘


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